Thetametrisis便攜式光學膜厚儀FR-prtable是一款獨特的USB便攜式測量儀器，可對透明和半透明的單層或多層堆疊薄膜進行準確的無損（非接觸式）表征。

Filmetrics F54薄膜厚度測量儀能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米

硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。

Filmetrics 自動化厚度測量儀能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度，一般較短的波長 （例如， F50-UV） 可用于測量較薄的薄膜，而較長的波長則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

Filmetrics F3-sX半導體薄膜測量儀可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均

硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度，因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導體膜層) 。