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美國FSM 薄膜應力及基底翹曲測試設備:在襯底鍍上不同的薄膜后, 因為兩者材質不一樣,以及不同的材料不同溫度下特性不一樣, 所以會引起應力。 如應力太大會引起薄膜脫落, 引致組件失效或可靠性不佳的問題。 薄膜應力激光測量儀利用激光測量樣本的形貌,透過比較鍍膜前后襯底曲率半徑的變化, 以Stoney’s Equation計算出應力, 是品檢及改進工藝的有/效手段。
美國FSM高溫薄膜應力及翹曲度測量儀:美國FSM成立于1988年,總部位于圣何塞,多年來為半導體行業等高新行業提供各式精密的測量設備。
FSM413紅外激光測厚儀主要產品包括:光學測量設備:三維輪廓儀、拉曼光譜、 薄膜應力測量設備、 紅外干涉厚度測量設備、電學測量設備:高溫四探針測量設備、非接觸式片電阻及 漏電流測量設備、金屬污染分析、等效氧化層厚度分析(EOT)
StrainScope Flex可調式實時應力儀 產品具有測量速度快、精度高、重復性好等特點,對大尺寸樣品可拼接測量。其應力測量設備用戶遍及*,用戶包括肖特、卡爾-蔡司、JENOPTIK、Saint-Gbbain、Euro-Glass等著名公司。應用領域包括光學材料、醫用包裝材料、高分子類密封材料等。
實時型StrainScope S3/S4 應力儀 產品具有測量速度快、精度高、重復性好等特點,對大尺寸樣品可拼接測量。其應力測量設備用戶遍及*,用戶包括肖特、卡爾-蔡司、JENOPTIK、Saint-Gbbain、Euro-Glass等著名公司。應用領域包括光學材料、醫用包裝材料、高分子類密封材料等。