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        當前位置:首頁  >  產品中心  >  Thetametrisis膜厚儀  >  Filmetrics膜厚儀  >  F20Filmetrics薄膜厚度測量儀

        Filmetrics薄膜厚度測量儀

        簡要描述:不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數,還是想要知道材料的反射率和透過率,Filmetrics薄膜厚度測量儀F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設備就可以在數秒內得到測量結果。

        • 產品型號:F20
        • 廠商性質:代理商
        • 更新時間:2022-01-20
        • 訪  問  量: 428

        詳細介紹

        Filmetrics薄膜厚度測量儀 F20

        測量厚度從1nm到10mm的先進膜厚測量系統

        不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數,還是想要知道材料的反射率和透過率,F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設備就可以在數秒內得到測量結果?;谀衬K化設計的特點,F20適用于各種應用:

        • 測量厚度、折射率、反射率和穿透率:

        -     單層膜或多層膜疊加

        -     單一膜層

        -     液態膜或空氣層

        • 不同條件下的測量,包括:

        -     在平面或彎曲表面

        -     光斑小可達20微米

        -     桌面式、XY坐標自動化膜厚測量,或在線配置

        所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時的電話和互聯網支持(24小時/每周5工作日)。這就是Filmetrics的優勢!歡迎您試一試!

        膜層范例

        基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測量。

        這包括幾乎所有的電介質與半導體材料,例如:

         

        SiNX

        TiO2

        DLC

        光刻膠SU-8

        聚合物

        有機電致發光器AIQ材料

        非晶硅

        ITO

        硒化銅銦鎵CIGS

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                   膜厚測量儀|光學輪廓儀|Filmetrics|優尼康|粗糙度測量        

          厚度測量范圍

        膜厚測量儀|光學輪廓儀|Filmetrics|優尼康|粗糙度測量

        測量原理為何?

        膜厚測量儀|光學輪廓儀|Filmetrics|優尼康|粗糙度測量

        軟件功能以使用者為導向

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           其他的選用配件

        膜厚測量儀|光學輪廓儀|Filmetrics|優尼康|粗糙度測量

        選擇Filmetrics的優勢

        • 24小時電話,郵件和在線支持

        • 所有系統皆使用直觀的標準分析軟件

        附加特性

        • 嵌入式在線診斷方式

        • 免費離線分析軟件

        • 精細的歷史數據功能,幫助用戶有效地存儲,重現與繪制測試結果

         

        Filmetrics薄膜厚度測量儀應用

        半導體膜層                                  液晶顯示器

        • 光刻膠                                     • OLED

        • 加工膜層                                   • 玻璃厚度

        • 介電層                                     • ITO和TCOs

        光學鍍層                                      生物醫學

        • 硬涂層                                      • 聚對二甲苯

        • 抗反射層                                    • 醫療器械

         

         

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